Рефракция рентгеновского излучения на границе вещество-вакуум аналогична рефракции оптической с теми особенностями, что показатель преломления в рентгеновском диапазоне меньше единицы и отличается от нее на тысячные доли процента. В связи с этим при входе в вещество рентгеновское излучение преломляется меньше, чем в вакууме и полное внешнее отражение наблюдается при падении излучения на вещество, а не при выходе из него. Углы, при которых наблюдаются эти явления, не превосходят одного градуса. При таких малых углах резко вырастают требования к качеству обработки границы раздела: ее шероховатость (см. подробнее) должна быть не хуже нанометров. Наблюдать рефракцию удобнее, если излучение будет входить в образец, например, прямоугольной формы через боковую грань, а выходить через полированную. В случае, когда на полированной грани имеются слои различного состава, входящие в них сбоку пучки преломляются каждый на свой угол, зависящий от декремента показателя преломления вещества, образующего слой и позволяет его идентифицировать.
7t01=А.Г.Турьянский,И.П.Казаков,
И.В.Пиршин, М.М.Рзаев.
"Определение состава поверхностных слоев методом рентгеновской
рефрактометрии".
"Национальная конференция по применению
Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для
исследования материалов (РСНЭ-97),
Москва-Дубна, 25-29 мая 1997г., с. 145.
9s12=А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин.
"Рентгеновская рефрактометрия поверхностных слоев".
Приборы и техника эксперимента, 1999, N 6,
с.104-111, Москва.
9s13=A.G.
Tour’yanskii, I.V. Pirshin. X-Ray Refractometry of Surface Layers.
Instruments and Experimental Techniques. Vol. 42, No. 6, 1999, pp. 827-834.
0t36=A.G. Touryanski,
I.V.Pirshin,T.S.Argunova, V.M.Roshchin. "Two-Wave Refractometry of Surface Layers".
5-th Biennial Conference on High Resolution X-ray
Diffraction and Topography, 13-15th September 2000, Ustron-Jaszowiec,
Poland, Programme and Abstracts, P.1.13
0t38=А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин,
Н.Л. Попов, Н.Н. Мельник, В.М. Рощин, О.Н.Чмырева.
"Диагностика пленочных структур методами двухволновой
рефлекто-
и рефрактометрии". 3-я международная научная конференция
"Электроника
и информатика - XXI век". Тезисы докладов. Москва, Зелиноград,
22-24
ноября 2000 г, с. 205-206.
аннотация,
текст