Во время рефракции на краю пластины (см. рефракция) интенсивность прошедшего пучка по поперечному сечению будет неодинакова вследствие различной длины пути в веществе до выхода из пластины. Она будет спадать от почти 100% (луч, проходящий через ребро) по экспоненте с показателем -(mt/q), где m - линейный коэффициент ослабления рентгеновского излучения в веществе, t - расстояние от ребра в плоскости поперечного сечения, q - угол сколжения пучка внутри пластины при подходе к преломляющей поверхности изнутри. Эффективным считаем сечение (размером T), при котором показатель равен -1. В этом случае получаем значение Т порядка 100 нм. Дифракционная расходимость такого пучка по крайней мере вдвое ниже, чем пучка с резкими границами, получаемого с помощью диафрагмы. Вращая кристалл (меняя угол q) можно в больших пределах изменять толщину пучка Т.
A.G. Touryanskii, I.V. Pirshin, Instruments and Experimental Techniques, Vol.43,No.5, 2000, pp.664-670
"A metod for Formation of Ultrathin X-ray Beams"
0s27=Турьянский А.Г.,
Пиршин И.В. ПТЭ, № 5
(2000), с. 90-96.
"Метод получения
сверхтонких рентгеновских пучков"