Исследование локальных коэффициентов пропускания и отражения полупрозрачных монохроматоров из пиролитического графита
А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин, А.В. Виноградов
Физический институт им.П.Н. Лебедева РАН (Москва)
И.Г. Григорьева, А.А. Антонов
НИИ Графит (Москва)
Н. Пабликовер
Университет штата Невада (Рино)
Введение
В настоящее время уже построены экспериментальные схемы которые позволяют проводить измерения на 2-4 спектральных спектральных линиях за один цикл углового сканирования [ ].
Результаты измерений приведенные в [ ], являются интегральными, так как облучение образца проводилось ленточным пучком. Однако, как следует из топографических изображений на отражение [ ], величина коэффициента отражения R не является постоянной.
Поскольку
Очевидно, что степень однородности R(x,y), характеризуемая средним квадратичным отклонением
[R(x,y)] является критически важным параметром при использовании полупрозрачных монохроматоров для получения изображений на просвет, например, при исследовании биологических объектов. При использовании схем типа эшелон [ ] с установленными в ряд нескольким монохроматорами важное значение имеет также характер распределения T(x,y).В настоящей работе нами проведены прямые измерения локальных коэффициентов отражения R(x,y)и пропускания T(x,y)и впервые экспериментально найдена функция распределения R(x,y)и T(x,y)по поверхности.
Investigation of local transparency and reflectivity
of the HOPG semitransparent monochromators