патенты
1) 0p35-25abstr=A.G.Touryanski, A.V.Vinogradov, I.V.Pirshin.
"X-ray reflectometer".
Patent no. 6041098, US Cl. 378-70. (Official
Gazette March 21, 2000, p. 2960)
аннотация, txt
2) 8p04-3txt=А.Г.Турьянский, А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.
"Рентгеновский рефлектометр".
Патент РФ2104481,1998,
МКИ G01B 15/08.
аннотация, txt
8p05-17=A.G. Tour’yanskii, A.V. Vinogradov, I.V. Pirshin.
"X-Ray Reflectometer".
RF Patent No. 2104481, Int. Cl. G01N 23/20, 1998.
аннотация, текст
3) 8p06-4=А.Г.Турьянский, Л.В.Великов, А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.
"Рентгеновский рефлектометр".
Патент РФ2129698,1998,
МКИ G01B 15/00.
аннотация, txt
8p07-angl4
аннотация, текст
4) 1p44-40=А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин. (Rem. 4W)
"Рентгеновский рефлектометр",
Патент РФ № 2166184, G01B
15/08, 27.04 2001.
аннотация, txt
5) 1p45-53=А.Г.Турьянский,
А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.
"Рентгеновский рефлектометр",
патент РФ 2176776 2001, МКИ G01B 15/08
аннотация, txt
6) 2p57 Патент РФ 2181198
7)
4p72 И.В.
Пиршин, А.Г. Турьянский
Способ
измерения декремента рентгеновского показателя преломления
Патент
РФ №2240541