патенты

1) 0p35-25abstr=A.G.Touryanski, A.V.Vinogradov, I.V.Pirshin.

"X-ray reflectometer".

Patent no. 6041098, US Cl. 378-70. (Official Gazette March 21, 2000, p. 2960)

аннотация, txt

2) 8p04-3txt=А.Г.Турьянский, А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.

"Рентгеновский рефлектометр".

Патент РФ2104481,1998, МКИ G01B 15/08.

аннотация, txt 

 

8p05-17=A.G. Touryanskii, A.V. Vinogradov, I.V. Pirshin.

"X-Ray Reflectometer".

RF Patent No. 2104481, Int. Cl. G01N 23/20, 1998.

аннотация, текст

3) 8p06-4=А.Г.Турьянский, Л.В.Великов, А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.

"Рентгеновский рефлектометр".

Патент РФ2129698,1998, МКИ G01B 15/00.

аннотация, txt 

 

8p07-angl4

аннотация, текст

4) 1p44-40=А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин. (Rem. 4W)

"Рентгеновский рефлектометр",

Патент РФ № 2166184, G01B 15/08, 27.04 2001.

аннотация, txt

 

5) 1p45-53=А.Г.Турьянский, А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.

"Рентгеновский рефлектометр", патент РФ 2176776 2001, МКИ G01B 15/08

аннотация, txt

6) 2p57 Патент РФ 2181198

7) 4p72 И.В. Пиршин, А.Г. Турьянский

Способ измерения декремента рентгеновского показателя преломления

Патент РФ №2240541 24.07.2003

 текст

8) 4p78 патент 2241977

М.А. Кумахов, А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин

Коллимационное устройство