---1999
2000 2001 2002 2003 2004 2005
1 9 9 7
7t01-А.Г.Турьянский,И.П.Казаков, И.В.Пиршин, М.М.Рзаев.
"Определение состава
поверхностных слоев методом рентгеновской рефрактометрии".
"Национальная
конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и
Электронов для исследования материалов (РСНЭ-97), Москва-Дубна, 25-29 мая
1997г., с. 145.
abstr,
txt
1 9 9 8
8s02-А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин.+ reklama
"Рентгеновский
эшелон-монохроматор из пиролитического графита".
Приборы и техника
эксперимента, 1998, N 5, с.118-122, Москва.
abstr,
txt
8s03-A.G. Tour’yanskii, I.V. Pirshin.
"Pirolitic Graphite
X-Ray Echelon-Monochromator".
Instruments and Experimental Techniques. Vol. 41, No. 5,
1998, pp. 118-122.
abstr, txt
8p04-А.Г.Турьянский, А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.
"Рентгеновский
рефлектометр".
Патент РФ2104481,1998, МКИ
G01B 15/08.
аннотация, txt
8p05-A.G. Tour’yanskii, A.V. Vinogradov, I.V. Pirshin.
"X-Ray Reflectometer".
RF Patent No. 2104481, Int. Cl. G01N 23/20,
1998.
abstr, txt
8p06-А.Г.Турьянский, Л.В.Великов, А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.
"Рентгеновский
рефлектометр".
Патент РФ2129698,1998, МКИ
G01B 15/00.
abstr, txt
8p07-ang
abstr,
txt
8t08-А.Г. Турьянский, А.В.
Виноградов, И.В. Пиршин.
"Метод двухволновой рентгеновской рефлектометрии".
Микро-
и наноэлектроника - 98. Всероссийская
научно-техническая
конференция. Звенигород,
1998, с. 02-9.
abstr,
txt
8t09-А.П. Болтаев, Ю.В. Копаев, Н.В. Корняков,
Н.Н. Лойко,
Н.Н. Сибельдин,
М.М. Рзаев, А.Г. Турьянский.
"Эффекты накопления
носителей заряда и отрицательная дифференциальная
проводимость в системе
квантовых ям".
Микро-
и наноэлектроника - 98. Всероссийская
научно-техническая
конференция. Звенигород,
1998, с. 02-6.
abstr,
txt
9s10-А.Г.Турьянский, А.В.Виноградов,
И.В.Пиршин.
"Двухволновой
рентгеновский рефлектометр".
Приборы и техника
эксперимента, 1999, N 1, с.105-111, Москва.
abstr,
txt
9s11-A.G. Tour’yanskii, A.V. Vinogradov, I.V. Pirshin. "A Two-Wave X-Ray Reflectometer".
Instruments and Experimental Techniques. Vol. 42, No. 1,
1999, pp. 94-99.
abstr, txt
9s12-А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин.
"Рентгеновская
рефрактометрия поверхностных слоев".
Приборы и техника
эксперимента, 1999, N 6, с.104-111, Москва.
abstr,
txt
9s13-A.G. Tour’yanskii, I.V. Pirshin. "X-Ray Refractometry of Surface Layers".
Instruments and Experimental Techniques. Vol. 42, No. 6,
1999, pp. 827-834.
abstr, txt
9s14-В.И. Козловский, А.Б. Крыса, Ю.Г. Садофьев, А.Г. Турьянский
"Эпитаксиальные слои ZnTe и квантовые ямы
CdZnTe/ZnTe, выращенные
молекулярно-пучковой
эпитаксией на подложках GaAs (100) с использованием
твердофазной
кристаллизации аморфного слоя ZnTe".
ФТП, т 33, вып. 7 (1999) 810-14.
abstr,
txt
9s16-R.M. Feshchenko, I.V. Pirshin, A.G. Touryanski, A.V. Vinogradov.
"New Methods of X-Ray Reflectometry
of Solids and Thin Solid Films".
Journal of Russian Laser Research. Vol. 20, No. 2,
1999, pp. 136-151.
abstr, txt
9s17-A.V.Vinogradov, A.G.Touryanski,
I.V.Pirshin, R.M.Feschenko.
"Two-Wave x-ray method for characterization of
super-smooth substrates and thin films".
SPIE's 44th Annual Meeting and
Exhibition,18-23 July 1999, Delaver,
abstr, txt
9t20-А.В. Виноградов, И.В. Пиршин, А.Г. Турьянский, Р.М. Фещенко
"О новых методах рефлектометрии твердых тел и тонких пленок".
Рентгеновская оптика-99.
Материалы рабочего совещания. Нижний Новгород, 01-04 марта
abstr,
txt
9t21-Н.Н. Мельник, Т.М.
Бурбаев, Т.Н. Заварицкая, В.А. Курбатов,
К.В. Малахов, И.В. Пиршин, М.М. Рзаев, А.Г. Турьянский,
В.А. Караванский.
"Оптические свойства
полупроводниковых наночастиц".
Нанофотоника. Материалы рабочего совещания. Нижний Новгород, 15-18
марта
abstr,
txt
9t22-А.В.Виноградов, И.В.Пиршин, А.Г.Турьянский, Р.М.Фещенко.
"Двухволновая
и дифференциальная рентгеновская рефлектометрия.
Принципы и применения".
Вторая национальная
конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и
Электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва, 23-27 мая 1999г.,
с.166.
abstr,
txt
9t23-А.Г.Турьянский, А.В.Виноградов,
И.В.Пиршин.
"Двухволновой
рентгеновский рефлектометр".
Вторая национальная
конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и
Электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва, 23-27 мая 1999г., с.
434.
abstr,
txt
9t24-А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин.
"Рентгеновский
эшелон-монохроматор".
Вторая национальная
конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и
Электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва, 23-27 мая 1999г.,
с.435.
abstr, txt
0s25-Ya.I. Nesterets, V.I. Punegov, I.V. Pirshin, A.G. Touryanski, A.V. Vinogradov, E. Foerster, S.G. Podorov.
"Application of Statistical Dynamical Theory of X-Ray Diffraction
to Calculation of the HOPG Echelon-Monochromator
parameters".
Phys. Stat. Solidi (a), 179, 311 (2000).
abstr, txt
0s26-rus
abstr,
txt
0s27-Турьянский А.Г.,
Пиршин И.В.
"Метод получения
сверхтонких рентгеновских пучков".
ПТЭ, № 5 (2000), с. 90-96.
abstr,
текст
0s28-A.G. Touryanskii, I.V. Pirshin, Instruments and Experimental Techniques, Vol.43,No.5, 2000, pp.664-670
"A metod for Formation of Ultrathin X-ray Beams"
abstr txt
Полупрозрачный
рентгеновский монохроматор решетчатого типа".
ПТЭ, № 4 (2000), с.
117-122
abstr,
txt
0s30-A.G. Tour’yanskii, I.V. Pirshin.
"Grid-Type Semitrasparent X-Ray Monochromator".
Instruments and Experimental Techniques. Vol. 43, No. 4, (2000), pp.
542-546.
0s31-A.G.Touryanski, A.V.Vinogradov,
I.V.Pirshin.
"Two-channel X-ray reflectometer".
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, A 448 (2000)
184-187
abstr,
txt
0s32-Турьянский А.Г.
"Двухволновой
рентгеновский рефлектометр для диагностики сверхгладких
поверхностей и тонкопленочных структур".
Наука производству. №12
(2000) с. 21-23.
abstr,
txt
0s33-Турьянский А.Г., Пиршин
И.В., Хмельницкий Р.А.
"Разложение
рентгеновского спектра в диапазоне
энергии ~10 кэВ путем рефракции на полированной пластине алмаза".
Краткие сообщения по
физике ФИАН. № 4 (2000), с. 40-44.
0s34-A.G. Tur'yanskii, I.V. Pirshin, R.A.
Khmel'nitskii.
"X-Ray Spectral Decomposition in the ~10 keV
Energy Range by Way of Refraction by a Polished Diamond Plate".
Bulletin of the Lebedev Physics Institute, No.
4 (2000), 33-37.
0p35-A.G.Touryanski, A.V.Vinogradov, I.V.Pirshin.
"X-ray reflectometer".
Patent no. 6041098, US Cl. 378-70. (Official
Gazette March 21, 2000, p. 2960)
abstr, txt
0t36-A.G. Touryanski, I.V.Pirshin,T.S.Argunova, V.M.Roshchin.
"Two-Wave Refractometry of Surface
Layers".
5-th Biennial Conference on High Resolution X-ray Diffraction and
Topography, 13-15th September 2000, Ustron-Jaszowiec,
Poland, Programme and Abstracts, P.1.13
abstr, txt
0t37-T.S.Argunova, A.G. Touryanski,
I.V.Pirshin,
????
5-th Biennial Conference on High Resolution X-ray iffraction
and Topography, 13-15th September 2000, Ustron-Jaszowiec,
Poland, Programme and Abstracts, P. abstr, txt
0t38-А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин, Н.Л. Попов, Н.Н. Мельник, В.М. Рощин, О.Н.Чмырева.
"Диагностика
пленочных структур методами двухволновой рефлекто- и рефрактометрии".
3-я международная научная
конференция "Электроника и информатика - XXI век". Тезисы докладов.
Москва, Зеленоград, 22-24 ноября
abstr,
txt
1s39-А.Г. Турьянский, И.В.
Пиршин, Р.А. Хмельницкий, А.А. Гиппиус.
"Дисперсионные
характеристики алмаза в жестком рентгеновском диапазоне длин волн".
ФТТ, т. 43, №4 (2001) с.
619-26.
abstr,
txt
1s40-A.G. Tour'yanskii, I.V. Pirshin, R.A.
Khmel'nitskii, A.A. Gippius
"Dispersive Characteristics of Diamond in the Range of Hard X-ray
Waves".
Physics of the
abstr, txt
1s41-А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин, Р.А. Хмельницкий, А.А. Гиппиус.
"Определение
рентгеновского спектра по угловой дисперсии излучения в алмазной призме".
Письма в ЖЭТФ, т.73, вып. 9 (2001) с. 517.
abstr,
txt
1s42-A.G. Tour'yanskii, I.V. Pirshin, R.A.
Khmel'nitskii, A.A. Gippius
"X-ray Spectrum Determination from the Angular Dispersion of
Radiation in a Diamond Prism".
JETP Letters, Vol 73, no. 9 (2001) pp. 457-60.
аннотация, txt
1s43-Touryanski, Alexander G.; Pirshin, Igor V.; Vinogradov, Alexander
V.; Publicover, Nelson G.; Kantsyrev,
Victor L.; Grigorieva, Inna G.; Antonov,
Alexander A.
"Semitransparent monochromators for x-ray
imaging based on highly oriented pyrolytic graphite
(HOPG)".
Proc. SPIE. Penetrating Radiation Systems and Applications III. Vol.
4508, (2001) p. 58-64.
abstr, txt
1p44-А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин. (Rem. 4W)
"Рентгеновский
рефлектометр",
Патент РФ № 2166184, G01B
15/08, 27.04 2001.
abstr,
txt
1p45-А.Г.Турьянский, А.В.Виноградов,
И.В.Пиршин.
"Рентгеновский
рефлектометр", патент РФ 2176776 2001, МКИ G01B 15/08
abstr,
txt
1t46-A.G. Touryanski, I.V. Pirshin, M. A. Rzaev, F. Schдffler, M. Mьhlberger
"Two-wave X-ray optical diagnostics of GexSi1-x/Si modulation-doped
heterostructures".
10th International Conference on Modulated Semiconductor Structures
MSS10, 23-27 July, 2001. Abstracts, p. 33.
abstr, txt
1t47-Т.М. Бурбаев, И.П. Казаков, В.А. Курбатов, М.М. Рзаев, А.Г. Турьянский, В.А. Цветков, В.И. Цехош.
"Квантовые точки InGaAs на подложке Si(100) с
буферным слоем SiGe".
V Российская конференция
по физике полупроводников, Нижний Новгород, 10-14 сентября 2001. Тезисы
докладов, с. 337.
abstr,
txt
1t48-E.G. Bessonov, A.G.Touryanski, A.V.Vinogradov.
"Laser-Electron Source for Two-Projection Medical Imaging".
International Symposia: Roentgen's Heritage. Quantum Hall Effect and Heterostructures.
abstr, txt
"Semitransparent monochromators for X-ray
imaging and X-ray beam manipulation".
International Symposia: Roentgen's Heritage. Quantum Hall Effect and Heterostructures.
abstr, txt
1t56 Исследование локальных
коэффициентов пропускания и
отражения полупрозрачных монохроматоров из пиролитического графита A.G.Touryanski, A.V.Vinogradov, I.V.Pirshin, N. Publicover, I.G. Grigorieva, A.A. Antonov Невада rinograph
1s60 А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин Рентгеновский рефрактометр ПТЭ №2 2001г. с.109-117
1s61 A.G.Touryanski, I.V.Pirshin.
An X-ray refractometer. Instruments and Experimental
Techniques. Vol. 42, No. 2, 2001,
1s63 Оптические свойства п.п
наночастиц Известия АН сер.Физическая
т. 64 №2 2000 abstr,izvranphyz
2s50-A.G. Touryanski, I.V. Pirshin, M. A. Rzaev, F. Schдffler, M. Mьhlberger.
"Two-wave X-ray optical diagnostics of GexSi1-x/Si modulation-doped
heterostructures".
Physica E: Low-dimensional Systems
and Nanostructures. Volume: 13 (2-4) 2002 pp.1063–65.
abstr, txt
2s51-Бессонов Е.Г., Виноградов А.В., Турьянский А.Г.
"Лазерно-электронный
источник рентгеновского излучения для медицинских применений".
ПТЭ, №5 (2002) С. 142-48.
abstr,
txt
2s51e-
Engl txt
2p57 Патент РФ 2181198
2t53-A.G. Touriyanski, I.V. Pirshin, N.L. Popov, YuA. Uspenski, A.V. Vinogradov.
"Relative X-Ray Reflectometry for
Characterization of Nanostructures".
Proceedings of the 5th ISTC Seminar Nanotechnologies in the Area of
Physics, Chemestry and Biotechnology.
2t54-V.E. Asadchikov, V.S. Krivonosov, I.V. Kozhevnikov, I.V.
Pirshin, N.L. Popov, S.I.
Sagitov, A.G. Tourjanski,
Yu.A. Uspenski, A.V. Vinogradov.
"Hard X-ray reflectivity and scattering study of supersmooth surfaces and thin films in Moscow X-ray optics
group".
The 6th International Conference on the Physics of X-Ray Multilayer
Structures.
abstr,
txt
2r55-Премия МАИК. Объявление об итогах конкурса
за
Diplom
2s64a Бесс
engl txt
txt
2s52-А.Г. Турьянский, И.В.
Пиршин.
"Методы регистрация
разностных рентгеновских проекций" ПТЭ, 4, 2003
3s62 A.G. Touriyanski, I.V. Pirshin, N.L. Popov, YuA. Uspenski, A.V. Vinogradov ОТНОСИТЕЛЬНАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ СВЕРХГЛАДКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СТРУКТУР
3s65 Н.Л. Попов, Ю.А.
Успенский, А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин, А.В. Виноградов,
Ю. А. Платонов. Определение параметров многослойных
структур с помощью двухволновой рентгеновской рефлектометрии. Физика и техника полупроводников.
2003 v 37 №6 .р
700-705
3t70 А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ
МЕТОДАМИ РЕНТГЕНОВСКОЙ РЕФРАКТОМЕТРИИ Конференция РСНЭ 2003
4s71 А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин, Д.В. Белянский
Измерение рентгеновских спектров поглощения методом
призменной спектроскопии,
Письма в ЖЭТФ, том 79, вып.9, с. 504-506.
by the Prism Spectroscopy Method
4p72 И.В.
Пиршин, А.Г. Турьянский
Способ
измерения декремента рентгеновского показателя преломления
Патент
РФ №2240541
4t73
А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин
Рентгеновский спектрометр на
базе алмазной призмы
Рентгеновская оптика – 2004,
Н-Новгород, 2-6 мая
5s74 А.Г.Турьянский, И.В.Пиршин
Туннелирование
рентгеновских фотонов через тонкую пленку в условиях полного внутреннего отражения.
Письма в ЖЭТФ, том 81,
вып.10, с. 610-613.
Tunneling
of X-ray
X-ray and Neutron Capillarly Optics II,22-29 Sept.2004, Zvenigorod,
Russia
Russia
X-ray and Neutron Capillarly Optics II,22-29 Sept.2004, Zvenigorod,
Russia
Standard and two-wavelength X-ray reflectometry for investigation of nanosize
layers.
EXRS 2006,European Conference on X-Ray Spectrometry, Paris, France – June
19-23, 2006, O9-7.
Diamond prism X-ray spectrometer.
EXRS 2006,European Conference on X-Ray Spectrometry, Paris, France – June
19-23, 2006, P11-5.
txt
Applications of two-wave X-ray reflectometry in study of nanostructures.
EXRS 2006,European Conference on X-Ray Spectrometry, Paris, France – June
19-23, 2006, P9-2.
txt
М.
Относительная рентгеновская рефлектометрия дискретных слоистых структур .
Письма в журнал технической физики. 2007. Т. 33, N 5. С. 87-94
txt
7t92. А. Г. Турьянский, И. В. Пиршин
9t97. А. Г. Турьянский