Благодаря использованию полупрозрачных монохроматров (см. подробнее) есть возможность проводить измерения синхронно и одновременно без какой-либо переналадки установки на двух (по крайней мере) длинах волн рентгеновского излучения, например, альфа и бета одной рентгеновской трубки. Это позволяет устранить препятствия, непреодолимые в стандартных (на одной волне) измерениях, как, например: неизбежные ошибки и уходы параметров установки в процессе измерения и при переналадке на другую длину волны, измерения образцов произвольной формы, освещаемых частично или частично перехватывающих пучек и т.д. Вычисляемое в процессе измерений отношение коэффициентов отражения на двух волнах не зависит от этих факторов.
9s10=А.Г.Турьянский,
А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.
"Двухволновой
рентгеновский рефлектометр".
Приборы и техника эксперимента, 1999, N 1, с.105-111, Москва.
8p04=А.Г.Турьянский,
А.В.Виноградов, И.В.Пиршин.
"Рентгеновский рефлектометр".
Патент РФ2104481,1998, МКИ G01B 15/08.
2t53=A.G. Touriyanski, I.V. Pirshin, N.L. Popov, YuA.
Uspenski, A.V. Vinogradov. Relative
X-Ray Reflectometry for Characterization of Nanostructures. Proceedings of the 5th ISTC Seminar Nanotechnologies in
the Area of Physics, Chemestry and Biotechnology.
9t22=А.В.Виноградов, И.В.Пиршин, А.Г.Турьянский, Р.М.Фещенко.
"Двухволновая и дифференциальная
рентгеновская рефлектометрия.
Принципы и применения".
Вторая национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного
излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва,
23-27 мая 1999г., с.166.
2t54=V.E. Asadchikov, V.S. Krivonosov, I.V. Kozhevnikov, I.V. Pirshin,
N.L. Popov, S.I. Sagitov, A.G. Tourjanski, Yu.A. Uspenski, A.V. Vinogradov. Hard X-ray reflectivity and scattering study of supersmooth surfaces and thin films in
Session 6.1. Invited.